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Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation, Fachbücher von Selahattin Sayil
Das Buch "Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation" bietet eine umfassende Einführung in die verschiedenen Mechanismen von Strahlungsfehlern, die in modernen elektronischen Designs auftreten können. Es behandelt Themen wie weiche Verzögerungen, strahlungsinduzierte Taktjitter und Pulswirkungen sowie die Effekte, die durch Einzelereignis-Kopplung verursacht werden. Der Autor, Selahattin Sayil, erläutert nicht nur verschiedene Techniken zur Strahlungshärtung für kombinatorische Logik, sondern stellt auch innovative Strategien zur Minderung von Fehlern in kommerziellen Designs vor. Zu den behandelten Themen gehören neuartige Techniken wie die dynamische Schwellenwerttechnik und die Soft Error Filtering-Methode, die auf Übertragungsgattern mit variierenden Gate- und Körperbias basieren. Darüber hinaus wird die Modellierung von SE-Kreuzgesprächsrauschen sowie Verzögerungs- und Beschleunigungseffekten behandelt. Das Buch bietet wertvolle Einblicke in die Zuverlässigkeit energieeffizienter Designs und die Auswirkungen von Optimierungen des Leckstromverbrauchs auf die Robustheit gegenüber weichen Fehlern.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits, Fachbücher von Mohsen Raji, Behnam GhavamiDas Buch "Soft Error Reliability of VLSI Circuits" richtet sich an Leser, die sich für den Entwurf robuster und zuverlässiger elektronischer digitaler Systeme interessieren. Die Autoren behandeln aufkommende Trends im Design zuverlässiger elektronischer Systeme, die für sicherheitskritische Anwendungen wie die Automobil- oder Gesundheitsbranche von Bedeutung sind. Der Schwerpunkt liegt auf Modellierungsansätzen und Algorithmen zur Analyse und Minderung von Softfehlern in nanoskaligen CMOS-Digital-Schaltungen. Diese Techniken sind grundlegend für das Computer Aided Design (CAD) zuverlässiger VLSI-Schaltungen. Das Buch führt Softwaretools zur Analyse und Minderung von Softfehlern ein, die sich nahtlos in bestehende Entwurfsabläufe integrieren lassen. Neben der Diskussion von softfehlerbewussten Analysetechniken für kombinatorische Logik werden auch neue Strategien zur Minderung von Softfehlern in kommerziellen digitalen Schaltungen beschrieben. Die Abdeckung umfasst neuartige Techniken zur Analyse der Soft Error Rate (SER), einschliesslich prozessvariationsbewusster SER-Schätzung und GPU-beschleunigter SER-Analyse.53,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
Springer Abich:Early Soft Error Reliability Asse (Englisch, Hardcover, Geancarlo Abich, Luciano Ost, Ricardo Reis) (9783031185984)
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits, Fachbücher von Mohsen Raji, Behnam GhavamiDas Buch "Soft Error Reliability of VLSI Circuits" richtet sich an Leser, die sich für den Entwurf robuster und zuverlässiger elektronischer digitaler Systeme interessieren. Die Autoren behandeln aufkommende Trends im Design zuverlässiger elektronischer Systeme, die für sicherheitskritische Anwendungen wie die Automobil- oder Gesundheitsbranche von Bedeutung sind. Der Schwerpunkt liegt auf Modellierungsansätzen und Algorithmen zur Analyse und Minderung von Softfehlern in nanoskaligen CMOS-Digital-Schaltungen. Diese Techniken sind grundlegend für das Computer Aided Design (CAD) zuverlässiger VLSI-Schaltungen. Das Buch führt Softwaretools zur Analyse und Minderung von Softfehlern ein, die sich nahtlos in bestehende Entwurfsabläufe integrieren lassen. Neben der Diskussion von softfehlerbewussten Analysetechniken für kombinatorische Logik werden auch neue Strategien zur Minderung von Softfehlern in kommerziellen digitalen Schaltungen beschrieben. Die Abdeckung umfasst neuartige Techniken zur Analyse der Soft Error Rate (SER), einschliesslich prozessvariationsbewusster SER-Schätzung und GPU-beschleunigter SER-Analyse.53,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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